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介电常数介质损耗测试仪-介电常数测试仪

简要描述：介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

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厂商性质：生产厂家
更新时间：2025-02-08
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介电常数测试仪

硫化橡胶介电常数测试仪介电常数测试仪陶瓷材料介电常数测试仪橡胶介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪工频介电常数测试仪介电常数介质损耗测试仪

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详细介绍

品牌	AIRTIMES/中航时代

    ZJD-A介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍

    ZJD-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

    技术参数

    1 Q值测量范围：5～999

    Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档或手动换挡

    误差：25kHz～10MHz   ≤5%±满度值的2%

    10MHz～50MHz  ≤7%±满度值的2%

    2 电感测量范围：0.1μH～1H  分七个量程

    3 电容测量范围：1PF～460PF

    主电容调节范围：40PF～500 PF

    准确度：150PF以下±1.5PF

    150PF以上±1%

    微调电容调节范围：-3PF～0PF～+3PF

    准确度：±0.2PF

    4 频率覆盖范围：25 kHz～50MHz 分七段

    指示误差：2×10-4±2个字

    5 电源：220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

    6 环境温度：(0～+40)℃

    7 相对湿度：RH<80%

    8 外形尺寸：380mm×132mm×280mm

    9 重量：约7kg

    中航时代所有产品质保两年，终身维修,请放心浏览选购。

    ZJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪

    仪器介绍

    ZJD-B全数字显示介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

    ZJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.

    技术参数

信号源频率范围	DDS数字合成 10KHz-60MHz	Q测量范围	1-1000自动/手动量程
信号源频率覆盖比	1900/9/6 0:01	Q分辨率	4位有效数,分辨率0.1
信号源频率精度	3X10 -5 ±1个字,6位有效数	Q测量工作误差	<5%
电感测量范围	15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH	调谐电容	主电容30-500PF
电感测量误差	<5%	调谐电容误差和分辨率	±1.5P或<1%
标准测量频点	全波段任意频率下均可测试	Q合格预置范围	5-1000声光提示
谐振点搜索	自动扫描	Q量程切换	自动/手动
谐振指针	LCD显示	LCD显示参数	F,L,C,Q,波段等

    中航时代所有产品质保两年，终身维修,请放心浏览选购。

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪仪器介绍

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

    技术参数

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项技术：

    1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

    2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

    3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

    4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

    5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

    6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

    7 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路残余电感减至zui低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

    ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。

	主要技术特性
Q 值测量范围	2 ～ 1023,量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000,自动换档或手动换档
固有误差	≤ 5％±满度值的 2％(200kHz～10MHz),≤6％±满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差	≤7％ ± 满度值的2％(200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 满度值的2％(10MHz～160MHz)
电感测量范围	4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围	1 ～ 200pF
主电容调节范围	18 ～ 220pF
主电容调节准确度	120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围	100kHz ～ 160MHz
频率分段(虚拟)	100 ～ 999.999kHz,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
频率指示误差	3 × 10 -5 ± 1 个字

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