绝缘电阻测试方法总结

串联法

将待测电阻Rx 与已知电阻Rs 串联，测量分压计算Rx 。

简单易行，适合高阻值测量。

线性刻度误差大，依赖电压源的精度。

实验室中高阻材料测试。

并联法

将Rx与标准电阻并联，通过总电流反推  Rx 。

适合低阻值测量。

小阻值易受接触电阻干扰。

精度需求较低的现场检测。

电压比较法

基于分压原理，比较标准电阻与待测电阻的电压比值。

电路简洁，适合中高阻值。

需要高精度电压表。

中压设备绝缘性能检测。

电桥法

平衡电桥两臂电压，利用桥臂电阻比例关系计算Rx 。

高精度（±0.1%），分辨率优。

需手动平衡，操作复杂，耗时。

实验室精密测量（如校准芯片封装）。

全桥法

四电阻平衡桥，消除温度漂移与接触电阻影响。

抗干扰性强，热稳定性好。

设备复杂，成本高。

高精度半导体材料测试。

半桥法

仅用两电阻桥臂，电路简化。

操作便捷，成本较低。

精度较低（±1%）。

工业常规检测。

电容充放电法

测量RC电路充放电时间常数，通过t= R×C  计算电阻。

适合超高阻（>101?Ω），抗干扰性好。

需精确计时设备，低频响应差。

电力电缆绝缘老化评估。

高压测漏流法

施加标准高压（如1000 V），直接测量漏电流 I，由  R=V/I  计算电阻。

自动化高，量程广（10?~101?Ω）。

需高压防护设计，成本较高。

工业主流（IEC 60243标准测试）。