ZJD-B型固体绝缘材料介电常数测试仪操作方法与步骤介绍

ZJD-B型固体绝缘材料介电常数测试仪操作方法与步骤介绍

一、 介电常数测试方法与步骤

1. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

2. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。

3. 被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。

4. 调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。

1. 再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值大值）上。

2. 取出S916测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变?。?，此时调节S916测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.

3. 计算被测样品的介电常数:

     Σ＝D2 / D4

二、 介质损耗测试方法与步骤

1. 分布容量的测量

a) 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；

b) 将调谐电容器调到大值附近500P左右，令这个电容是C1，

c) 按下仪器面板的频率搜索键，使测试回路谐振，谐振时Q的读数为Q1；

d) 将测试夹具接在“Cx”两端，放入材料，测出材料厚度后取出材料，调节主调电容，使测试电路重新谐振，此时可变电容器值为C2，Q值读数为Q2。

机构电容的有效电容为：Cz= C1－C2

分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0（参考电感的技术说明）的和

电容器损耗角正切为

公式里的C0只是电感的分布电容值，不是主机软件显示的C0 

2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。

4. 被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平直。

5. 调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。再松开两片极片，把被测样品夹入两片极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，到的平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2，改变主机上的主调电容容量，使主机处于谐振点（Q值大值）上，然后按一次 主机上的小数点（tgδ）键，在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x，记住厚度D2的值。

6. 取出S916测试夹具中的样品，（保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变）这时主机又失去谐振（Q值变?。?，再改变主机上的主调电容容量，使主机重新处于谐振点（Q值大值）上。

7. 第二次按下 主机上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。

8. 出错提示，当出现tn =  NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。

附录 一

LKI-1电感组

LKI-1型电感组共包括不同电感量的电感9个，凡仪器在进行测试线圈的分布电容量，电容器的电容量，高频介质损耗，高频电阻和传输线特性阻抗等高频电路和元件的电性能时，必须用电感组作辅助工具。

本电感组有较高Q值，能使仪器测量时得到尖锐谐振点，因而增加其测量的准确度，各电感的有关数据如下表：

附录 二

一、如何测试带粘性超薄绝缘材料的介电常数

1 用锡箔纸覆胶在材料的两面，上下层锡箔纸不能接触。锡箔纸厚度为DX;(材料大小要和测试电极大小基本一致)

2 超薄材料需要叠加：叠加方式如下

                                   250μ贴合6层后测试；

200μ贴合8层后测试；

175μ贴合9层后测试；

125μ贴合12层后测试；

100μ贴合15层后测试；

75μ贴合20层后测试；

50μ贴合30层后测试。

3 计算公式 

  Σ＝(D2-2*DX)/D4

4 介质损耗系数测试同理